功率循环测试

要研究与热疲劳相关的电力电子模块的可靠性,功率循环测试被公认为是最重要的加速老化测试方法。贺利氏在可靠性测试以及功率循环测试领域拥有丰富的经验,可帮助客户加快产品开发速度,缩短新品上市周期。

功率循环测试

电力电子模块在其整个使用寿命期间都要承受在极高的热机械应力。随着功率半导体器件、系统集成和优化技术的进一步发展,电力电子模块需要承受的热应力甚至越来越高:芯片尺寸越小、厚度越薄,其功率密度越高,因此工作温度也越高。除了因芯片内部高温而产生的热应力之外,外部热循环以及冷却系统的不同温度等级也有一定的影响。

温度循环测试是一种适用于电力电子器件的加速寿命测试方法。这种模块耐久性测试可用于使用寿命建模,这也是使用寿命测试的终极方法。

与温度循环测试不同的是,在功率循环测试中使用的被测器件是通过芯片内部的功率损耗来主动进行加热,然后通过散热片冷却液进行冷却。因此,功率循环测试反而是一种耐久性测试,而被动温度循环测试则是一种环境测试。

然而,测试参数和控制策略的不同选择使得功率循环测试成为操作最复杂的可靠性测试方法。

贺利氏应用中心的专家提供多种测试服务,帮助客户更深入地了解其产品的可靠性,从而加快产品开发速度,优化工艺流程。


ECPE指导原则AQG 324

贺利氏不仅以产品和服务的形式为客户提供专业技术知识,而且也为欧洲电力电子中心(ECPE)的“汽车电力电子模块认证”工作组做出了重要的贡献。

ECPE指导原则–AQG 324 《汽车电力电子转换单元(PCU)用电力电子模块认证》已由ECPE“汽车电力电子模块认证”工作组颁布,该工作组由30余家来自汽车行业的ECPE会员单位组成。

返回顶部