Lampade per la misurazione delle pellicole sottili

Le lampade di analisi ottica di Heraeus vengono utilizzate nei settori industriali più differenziati per determinare lo spessore dei rivestimenti sottili.

Misurazione dello spessore degli strati

I due metodi più comuni per la misurazione delle pellicole sottili sono la riflettometria e l'ellissometria. Si tratta di due procedimenti di misurazione ottica eseguiti senza contatto che utilizzano la luce riflessa dal campione per misurare lo spessore dello strato senza toccarlo.

Il metodo di misurazione delle pellicole sottili viene impiegato, ad esempio, nell'ambito della garanzia della qualità in determinate fasi di produzione dell'industria ottica, ma anche nel settore di produzione dei display e dei semiconduttori.

Il metodo consente di misurare:

  • le superfici lisce / curve
  • uno o più strati di sostanze liquide e/o solide
  • materiali come metalli, plastica, vetro, ecc

Heraeus offre lampade di analisi affidabili con intervalli spettrali diversi per soddisfare le esigenze più differenziate.

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