パワーエレクトロニクスモジュールは、その寿命の間に大きな熱機械的ストレスにさらされます。このストレスは、ダイサイズの縮小と大電流化、すなわち高電流密度化という継続的な要求の変化によって、さらに増大しています。また、ダイの動作温度や周囲温度が上昇する傾向にあることも、システムにおけるストレスを増大させます。
ヘレウス・エレクトロニクスでは、試験環境の境界条件を変えて、現場条件に近い形でシミュレーションを行うことが可能であり、またその経験もあります。サーマルインターフェイス材（TIM）のような試験設定は、試験結果にも影響を与えるため、コントロールすることが重要です。
アクティブパワーサイクル試験また温度サイクル試験は、パワーエレクトロニクスデバイスの加速劣化試験です。受動的な温度サイクル試験とは異なり、ダイ内部の電気エネルギー散逸により被試験デバイスを能動的に加熱し、ヒートシンクにより一定温度で冷却します。したがって、環境試験である受動的な温度サイクル試験とは対照的に、寿命評価試験になります。
私たちのアプリケーションセンターのエキスパートは、お客様が製品の信頼性性能を調査するための試験サービスを提供して、お客様の開発のスピードアップとプロセスの最適化に貢献します。
ECPEガイドライン AQG 324
ヘレウス・エレクトロニクスは、その専門知識を製品やサービスの形で顧客に提供するだけでなく、欧州パワーエレクトロニクスセンター（ECPE）のワーキンググループ「Automotive Power Module Qualification」にもその知識を提供しています。
自動車業界で活躍するECPE のメンバー企業 30 社以上で構成される ECPE ワーキンググループ「Automotive Power Module Qualification」は、 ECPE ガイドライン AQG 324（英語） 「Qualification of Power Electronics Converter Units for Use in Motor Vehicles」を発表しました。