薄膜測定向けランプ

ヘレウスの光学・分析用ランプは、多種多様な産業で膜厚測定に使用され、最も薄いコーティングでも測れます。

Lamps for Thin film measurement

最も一般的に使用されている膜厚測定方法は、反射率測定法と偏光解析法の2つです。両者とも光学式で非接触の方法で、サンプルが反射する光を使用して膜厚を測定します。

薄膜測定は、光学産業における製造段階の品質を保証するために実施されますが、ディスプレイや半導体の製造にも使用されます。


次の測定に使用されています。

  • 平らな表面/曲面
  • 液体や固体物質の単層および多層
  • 金属、プラスチック、ガラス等の材料


さまざまなアプリケーション向けに、ヘレウスは異なるスペクトル範囲の信頼性のある分析用ランプを提供しています。

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