半導体検査

半導体のウェハー

顕微鏡の光学解像度を上げるために、単一波長の深紫外線が使用されています。紫外光源にフィルターを利用して、単一波長を分離することができます。これにより、半導体ウエハーのような微細なプロセス制御に役立ちます。

半導体検査用ランプ