Los dos procedimientos más utilizados para la medición de capas delgadas son la reflectometría y la elipsometría. Ambos consisten en procedimientos de medición óptica sin contacto, en los que la luz reflejada por la muestra se utiliza para medir el grosor de la capa.
La medición de capas delgadas se utiliza, por ejemplo, en el aseguramiento de la calidad en determinadas etapas de producción de la industria óptica, y también en el ámbito de la fabricación de pantallas y semiconductores.